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缺陷密度与 DRE 计算器

缺陷密度回答单位规模里发现了多少缺陷,DRE 回答发布前清除了多少比例的缺陷。输入软件规模和发布前后缺陷数量,可以同时核对这两类指标。

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输入软件规模和缺陷数据

规模可以使用 KLOC 或功能点,但计算结果必须保留同一规模单位。

缺陷总数 -- 发布前缺陷 + 发布后缺陷
缺陷密度 -- 缺陷总数 ÷ 软件规模
缺陷去除效率 DRE -- 发布前去除缺陷 ÷ 缺陷总数
缺陷逃逸率 -- 发布后缺陷 ÷ 缺陷总数

缺陷密度和 DRE 衡量的不是同一件事

缺陷密度把缺陷数量除以软件规模,用于比较单位规模的缺陷水平;DRE 把发布前发现并去除的缺陷除以发布前后缺陷总数,用于衡量测试与质量活动在交付前发现缺陷的能力。

缺陷密度缺陷总数 ÷ 软件规模
DRE发布前去除缺陷 ÷(发布前缺陷 + 发布后缺陷)× 100%
逃逸率发布后缺陷 ÷ 缺陷总数 × 100%

示例:20 KLOC,发布前90个,发布后10个

缺陷总数为 100,缺陷密度为 100/20=5 个/KLOC;DRE 为 90/100=90%;缺陷逃逸率为 10%。DRE 和逃逸率在这个简化口径下相加为 100%。

结果表达

缺陷密度为 5 个/KLOC。

缺陷去除效率 DRE 为 90%。

发布后缺陷逃逸率为 10%。

比较缺陷密度前必须统一口径

两个项目如果一个按 KLOC、另一个按功能点统计,不能直接比较缺陷密度。缺陷严重级别、统计周期、重复缺陷、无效缺陷和需求变更是否计入,也会影响结果。

DRE 较高通常说明发布前发现缺陷的能力较强,但不能因此忽略缺陷总量、严重程度和用户影响。指标要组合使用。

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软件评测师和软件过程能力评估师都可能考缺陷指标。做题时先确认题目给的是缺陷总数、发布前缺陷,还是发布后逃逸缺陷。

相关题目解析

下面这些题目和本专题的判断方法关联较强,适合读完概念后回到具体题干里校验理解。

常见问题

缺陷密度越低一定越好吗?

不一定。还要确认规模单位、测试充分性、缺陷严重程度和统计口径。测试不足也可能让表面缺陷数量偏低。

DRE 为什么需要发布后缺陷数据?

DRE 用于估计交付前去除了多少比例的缺陷。没有发布后逃逸缺陷,就无法形成完整分母并评价发布前缺陷去除能力。

缺陷密度可以用功能点计算吗?

可以,只要明确结果单位为缺陷数/功能点,并确保比较对象使用相同规模和缺陷统计口径。